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高性能相位噪声和艾伦偏差测试

浏览次数:    发布时间:2016-09-19 17:55:40    
 
高性能相位噪声和艾伦偏差测试
 
 
在充分利用5120A为ADEV测量,5110A的行业标准制定过程中的Microsemi获得的广泛知识和经验。与1的频率范围内 - 的30MHz,下一代5120A还提供相位噪声的测量精度下降到±1.0分贝以前不可能的水平。
 
 
创新5120A结合了精密的计时技术整合到一个单一的先进仪器,该仪器所需的所有的测量功能集成到一个盒子解决方案,不需要校准或配置。由于所有的配置和校准是由5120A完成的,非常精确的测量,而不必以监督这些测量一个训练有素的工程师进行。要开始进行测量简单的测试,并引用(这是可选的5120A-01)将设备连接到5120A,然后按绿色开始按钮。在几秒钟内的结果出现的高分辨率,实时显示上。
 
 
一个集成的低噪声内部参考振荡器,被称为5120A-01的一箱测试解决方案,能够精确的测量无需外部参考。先前,用户需要提供在精确的测试频率这是耗时和昂贵的低噪声参考。如今,使得从DUT到5120A-01只是一个连接之后,就可以开始进行精确测量。能够测量低至-168 dBc / Hz为后,5120A-01甚至可以满足性能要求最高。
 
 
在5120A是最准确的相位噪声和ADEV测试在业设置。美国国家标准与技术研究院(NIST)校准样品5120A,并证实其精度比±1.0 dB时,在同行业中最好,只有更好。该5120A“的全数字设计,支持相位噪声和任何市售产品的ADEV测量范围最广的。在5120A获得专利的全数字化设计使相位噪声测量,是无载波抑制,允许低于0.1 MHz的频带。同样的技术使得ADEV测量,以超过300天的可能。
 
 
不同于传统的测量系统,该5120A不需要基准的频率是相同的作为DUT,从而允许在任何频率上的DUT作出精确的测量,用一个单一的低噪声参考。
 
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