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噪声测试

浏览次数:    发布时间:2016-09-19 17:56:25    
 
噪声测试
 
 
Microsemi的的3120A相位噪声测试探头使得对信号进行精确的相位噪声和Allan偏差测量从0.5 MHz到30 MHz的,覆盖全系列中最常用的频率参考。测试探头需要与外部计算机上运行的3120A相位噪声测试软件进行测量沿外部引用。除了相位噪声和艾伦偏差,用户选择软件升级测试探针采取其他几个测量,如HDEV,MDEV,TDEV,用探头作为频率计数器,并设置模板测试极限一起抖动。
 
 
在3120A中使用的全数字结构中,不需要一个锁相环进行测量的体系结构采用先进的,高速,低噪音的模拟 - 数字转换器。随着易于使用的3120A相位噪声测试软件,客户可以进行测量以具有成本效益的方式来描述他们的参考。
 
 
此选项允许测量输入信号的AM噪声频谱的3120A。结果显示以dBc / Hz的偏差在1赫兹到100千赫,低于-165 dBc / Hz为典型的仪器噪声在10千赫。信号统计 - HDEV,TDEV,MDEV测量和抖动,信号统计选项提供了先进的监控稳定性和表征其他统计资料。这些包括改性艾伦偏差(MDEV),阿达玛偏差(HDEV),以及频率稳定的测量时间偏差(TDEV),以及抖动,剩余调频,和SSB载波/相位噪声测量用户指定的积分限之间的噪声水平。
 
 
此选项将绝对频率测量的频率差图的实时图表。图表是在从不到一秒平均时间到时间1000秒持续更新。模板测试选项采用视觉猜测的性能优化和生产测试。使用此选项,由3120A的测量结果与用户自定义极限线的相位噪声,AM噪声,艾伦偏差,以及其他类型的图表自动计算。
 
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